Denne boken, skrevet av en pioner innen x-ray mikroskopi, gir en grundig innføring i emnet. Den dekker alt det tekniske grunnlaget du trenger for å kunne bruke, forstå og utvikle x-ray mikroskoper. Boken tar utgangspunkt i det grunnleggende innen x-ray fysikk og fokuserende optikk, og viderefører til mer avanserte emner som bildebehandlingsteori, tomografi, kjemisk og elementær analyse, linseless bildedannelse, beregningsmetoder, instrumentering, strålingsskader og kryomikroskopi. Den gir også en oversikt over de nyeste vitenskapelige anvendelsene av teknologien. Som en 'alt-i-ett' referanse, benytter boken en enhetlig notasjon og demonstrerer hvordan beregningsmetoder fra forskjellige felt er sammenkoblet. Med tallrike utledninger og illustrert med et mangfold av eksempler blir dette en essensiell tekst for akademikere og fagfolk innen ingeniørfag, fysikalske vitenskaper og livsvitenskaper, som benytter x-ray mikroskopi til analyser av prøver, samt for studenter som tar kurs i x-ray mikroskopi.
