Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Produktbeskrivelse
Boken "Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)" gir en grundig introduksjon til aberrasjons-korrigert elektronmikroskopi, med fokus på atomoppløsning innen materialvitenskap og fysikk. Den dekker både den brede stråleoverføringsmetoden (TEM; transmissjonselektronmikroskopi) og den skannende overføringsmetoden (STEM; skannende transmisjonselektronmikroskopi). Boken er strukturert i tre deler. Den første delen gir en innføring i grunnleggende begreper relatert til konvensjonell atomoppløsningsmikroskopi i både TEM- og STEM-modus. Her drøftes også begrensningene ved konvensjonelle elektronmikroskoper og mulige artefakter som oppstår på grunn av de iboende linseaberrasjonene som alltid er til stede i slike instrumenter. Den andre delen utforsker essensielle konsepter innen elektronisk optikk, og gir en kort introduksjon til elektronoptikkens prinsipper. Basert på kunnskapen presentert i de to første delene, fokuserer den tredje delen på korrigering av aberrasjoner og beskriver de ulike aberrasjonene i elektronmikroskopi.
