Boken 'Neutron and X-ray Reflectometry' utforsker de nyeste teknikkene innen reflektometri med nøytroner og røntgenstråler, som er essensielle verktøy for karakterisering av tynne filmer og overflater. Den gir en grundig innføring i prinsippene bak disse metodene og belyser deres praktiske anvendelser innen materialvitenskap, nanoteknologi og biologiske systemer. Med detaljerte beskrivelser og illustrasjoner tar boken leseren gjennom både teoretiske og eksperimentelle aspekt ved reflektometri, og tilbyr en omfattende ressurs for forskere og ingeniører som ønsker å utnytte disse analysestrategiene i sitt arbeid. Dette verket er ideelt for både studenter som ønsker et solid grunnlag, samt erfarne fagfolk som ønsker å holde seg oppdatert på den nyeste utviklingen innen feltet.
