IET har siden 1983 organisert kurs om mikrobølge-målinger, hvor eksperter har delt sine kunnskaper om moderne utviklinger. Denne tredje utgaven av forelesningsnotatene har som mål å presentere de nyeste teknikkene innen mikrobølge-målinger til et bredere publikum. Boken inneholder en grundig gjennomgang av teorien bak dagens mikrobølge-kretser, samt en detaljert beskrivelse av teknikker for måling av effekt, spektrum, demping, kretsparametre og støy, i tillegg til måling av antennekjennetegn, frie felt, modulasjon og dielektriske parametre. Fokus gjennom hele boken er på god målepraksis. All nødvendig teori presenteres, og det forutsettes ikke tidligere kunnskap om emnet. Boken vil være av interesse for de som arbeider med design av mikrobølge-målesystemer i både forskning og industri, samt de som leverer mikrobølge-målesystemer i forskning og industri, tilbyr målingstjenester, og de som underviser i mikrobølge-målinger ved universiteter.
