Semiconductor Material and Device Characterization

Den tredje utgaven av den anerkjente boken "Semiconductor Material and Device Characterization" oppdaterer en banebrytende tekst med de nyeste funnene innen feltet. Denne internasjonalt anerkjente utgaven gir en omfattende oppdatering av de nyeste utviklingene, samt nye pedagogiske verktøy for å støtte leserne. Ikke bare presenterer den de nyeste måleteknikkene, men den tar også for seg nye tolkninger og anvendelser av eksisterende metoder. Boken forblir den eneste teksten dedikert til karakteriseringsteknikker for måling av halvledermaterialer og -enheter. Dekningen spenner over et bredt spekter av elektriske og optiske karakteriseringsmetoder, inkludert mer spesialiserte kjemiske og fysiske teknikker. Lesere som er kjent med de to forrige utgavene, vil oppdage en grundig revidert og oppdatert tredje utgave, som inkluderer oppdaterte figurer og eksempler som reflekterer de mest aktuelle dataene og informasjonen.