Boken "Auger Electron Spectroscopy" utforsker bruken av Auger elektron spektroskopi (AES) og skannende Auger mikroskopi som verktøy for karakterisering av et bredt spekter av teknologiske materialer. Dette inkluderer alt fra metaller og legeringer til halvledere, nanostrukturer og isolatorer. Bokens verdi som et redskap for høyoppløselig elementær avbildning og sammensetningsdybdeprofilering blir grundig illustrert. Den demonstrerer hvordan teknikken kan brukes til å hente ut kjemisk informasjon fra overflater, grensesnitt og tynne filmstrukturer i teknologiske og ingeniørmessige materialer. Videre beskriver volumet de grunnleggende fysiske prinsippene bak AES på en enkel og lettfattelig måte. De viktigste komponentene i typiske Auger spektrometre blir også omtalt, og boken diskuterer andre typer analyser der en Auger elektron spektrometer kan være nyttig, eksempelvis sekundær elektron mikroskopi, bakscattered elektron avbildning og røntgen spektroskopi. Den tar også for seg forholdet mellom AES og andre analyseteknikker.
