Boken 'Introduction to Focused Ion Beams' retter seg mot teknikker og bruksområder innen fokuserte ionebrikker. Dette er det eneste verket som presenterer teorien direkte knyttet til ulike applikasjoner, og det er også den eneste teksten som grundig dekker de omfattende bruksområdene og teknikkene som benyttes i FIB-er og duale plattforminstrumenter. Denne boken er et essensielt verktøy for forskere og fagpersoner som ønsker en dypere forståelse av fokuserte ionebrikker og hvordan de kan anvendes i avanserte materialanalysestrategier.
