Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Den fjerde utgaven av "Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis" er nå grundig revidert og oppdatert, og gir leserne en omfattende innføring i scanning elektronmikroskopi (SEM), energidispersiv røntgenspektrometri (EDS) for elementær mikroanalyse, elektron tilbakeprøvespredningsanalyse (EBSD) for mikrokristallografi, samt fokuserte ionebeam. Boken henvender seg både til studenter og akademiske forskere som er på jakt etter en autoritativ og vitenskapelig ressurs, men også til SEM-operatører og et bredt spekter av fagfolk, inkludert ingeniører, teknikere, fysiske og biologiske vitenskapsfolk, klinikere og tekniske ledere. Hver eneste kapittel er grundig oppdatert for å tilfredsstille de mer praktiske behovene til teknologer og yrkesaktive. I en betydelig endring fra tidligere utgaver nedtoner denne fjerde utgaven fokuset på design og de fysiske driftsprinsippene for instrumentene, som for eksempel elektronkilder, linser og detektorer. Innen moderne SEM er mange av de lave instrumentparametrene nå kontrollert og optimalisert, noe som gjør boken til et uunnværlig verktøy for både teoretisk forståelse og praktisk anvendelse.