Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

I løpet av det siste tiåret siden utgivelsen av den andre utgaven av 'Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis', har det skjedd en betydelig utvikling innen både skannende elektronmikroskoper (SEM) og røntgenspektrometre. Den nye variabeltrykk- og miljø-SM-en har muliggjort observasjon av prøver som inneholder vann eller andre væsker og damp, noe som har åpnet døren for en helt ny type dynamiske eksperimenter, inkludert direkte observasjon av kjemiske reaksjoner in situ. Viktige fremskritt innen elektron-detektor teknologi og datastøttet analyse har gjort det mulig å gjennomføre strukturell (krystallografisk) analyse av prøver på mikrometer-nivå ved hjelp av elektron bakscatter-diffeksjon (EBSD). Operasjon ved lav spenning, under 5 kV, har forbedret røntgen romlig oppløsning med mer enn en størrelsesorden og har gitt en effektiv tilnærming til å minimere prøvelading. Høyoppløselig avbildning har fortsatt å utvikle seg takket være en dypere forståelse av hvordan sekundære elektroner fungerer. Boken gir et omfattende blikk på disse fremskrittene og deres innvirkning på feltet.