Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Den fjerde utgaven av «Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis» er en grundig revidert og oppdatert utgave av en klassisk tekst som gir leseren en omfattende innføring i scanning elektronmikroskopi (SEM), energidispersiv røntgenspektrometri (EDS) for elementær mikroanalyse, elektron tilbakespredningsdiffraksjonsanalyse (EBSD) for mikrokrystallografi samt fokuserte ionebånd (FIB). Boken er en uunnværlig ressurs for studenter og akademiske forskere, samtidig som den henvender seg til SEM-operatører og et mangfold av fagpersoner – inkludert ingeniører, teknikere, fysikere, biologer, klinikere og tekniske ledere. Hver kapittel er betydelig omarbeidet for å møte de praktiske behovene til teknologiutøvere og yrkesaktive fagfolk. I denne utgaven er fokuset flyttet bort fra design og de fysiske driftsprinsippene for instrumenteringen, som elektronkilder, linser og detektorer. Den moderne SEM håndterer mange av de lavnivå instrumentparameterne på en ny og brukervennlig måte, noe som gjør denne boken til et uvurderlig verktøy for enhver som jobber innen feltet.